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產(chǎn)品中心

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等離子體發(fā)射光譜測量系統(tǒng)
產(chǎn)品簡介

該系統(tǒng)用于測量等離子體發(fā)射光譜測量,采用模塊化設(shè)計(jì) 采用光纖導(dǎo)光或空間光耦合

產(chǎn)品型號:OmniES-Plasma
更新時(shí)間:2024-05-20
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
訪問量:3295
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 ● 該系統(tǒng)用于測量等離子體發(fā)射光譜測量,采用模塊化設(shè)計(jì)
● 采用光纖導(dǎo)光或空間光耦合
● 可定位測量空間位置(選配功能)
● 測量光譜范圍:200-2500nm或1μm-14μm
● 光譜分辨率:優(yōu)于0.05nm(@1200g/mm光柵)
● 波長準(zhǔn)確度:優(yōu)于±0.2nm
● 波長重復(fù)性:優(yōu)于±0.1nm
● 光譜儀控制軟件包含濾光片輪自動(dòng)控制功能、光譜曲線繪制功能、全自動(dòng)測量、數(shù)據(jù)運(yùn)算、保存及打印等功能
 

 

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