Omni-λ300Di系列雙級聯光譜儀。兩級經過專門的匹配設計和光路調校，使得只有處于原始路徑的光可以實現色散相消，會聚在出射狹縫處輸出，有效降低雜散光。使用Omni- λ300D 雙單色儀，能夠獲得更為純凈的單色光，從而滿足微弱信號測試需求，如拉曼光譜、光電探測器光譜響應度標定等。

產品型號：

更新時間：2026-05-22

廠商性質：生產廠家

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產品概述

Omni-λ300Di系列雙級聯光譜儀功能及特點

■ 色散相減/色散相加2種模式可選；

■ 色散相減模式具有極低的雜散光，更適用于雜散光水平要求高的應用，色散相加模式具有更高的光譜分辨率，是單臺光譜儀分辨率的一半，更適用于分辨率要求較高、對雜散光水平也有一定要求的應用，同時，在同樣的帶寬條件下，色散相加型可獲得比色散相減型更高的光通量；

■ 一體化設計，方便運輸和安裝；

■ 采用USB2.0接口與PC進行通訊，軟件控制儀器運行（如光柵轉換、波長掃描和中間狹縫開啟寬度控制等）；

■ 三光柵實現UV-VIS-NIR寬光譜范圍；

■ 可與白光光源、濾光片輪等其他產品配套使用。

Omni-λ300Di系列雙級聯光譜儀規格參數表：

模式	色散相加				色散相減
光柵規格（g/mm）	1800	1200	600	300	1800	1200	600	300
焦距（mm）	640				320
相對孔徑	F/4.2
機械掃描范圍（nm）	0-800	0-1200	0-2400	0-4800	0-800	0-1200	0-2400	0-4800
分辨率-PMT（nm）	0.03	0.04	0.08	0.16	0.06	0.08	0.16	0.32
倒線色散（nm/mm）	0.695	1.15	2.43	4.98	1.39	2.29	4.87	9.97
波長準確度（nm）	±0.14	±0.2	±0.4	±0.8	±0.14	±0.2	±0.4	±0.8
波長重復性（nm）	0.02	0.025	0.05	0.1	0.02	0.025	0.05	0.1
掃描步距（nm）	0.0035	0.005	0.01	0.02	0.0035	0.005	0.01	0.02
雜散光	<1×10-7				<1×10-9
光軸高度（mm）	146
光柵規格（mm）	68×68
光柵臺	三光柵塔臺
狹縫規格	縫寬0.01-3mm連續手動可調，可選配自動狹縫；縫高：2 、4、 14mm可選；中間狹縫為24mm 自動縫
外形尺寸（mm）	825X500X281
通訊接口	標配USB2.0,可選RS-232

注1：分辨率的測試條件為中心波長435.83nm；

注2：倒線色散為中心波長為435.83nm下的典型值；

注3：隨著中心波長的增大，倒線色散數值減小，隨著中心波長的減小，倒線色散數值增大。

Omni-λ300Di系列雙級聯單色儀/光譜儀選型表

型號	描述
Omni-λ3007Di	320mm焦距雙極聯光譜儀第一級光譜儀側入手動狹縫，第二級光譜儀雙出口手動狹縫，可以同時安裝三對光柵，色散相減模式
Omni-λ3007DiMS	320mm焦距雙極聯光譜儀第一級光譜儀側入自動狹縫，第二級光譜儀雙出口自動狹縫，可以同時安裝三對光柵，色散相減模式
Omni-λ3007Di-A	320mm焦距雙極聯光譜儀第一級光譜儀側入手動狹縫，第二級光譜儀雙出口手動狹縫，可以同時安裝三對光柵，色散相加模式
Omni-λ3007DiMS-A	320mm焦距雙極聯光譜儀第一級光譜儀側入自動狹縫，第二級光譜儀雙出口自動狹縫，可以同時安裝三對光柵，色散相加模式